ATE

出典: くみこみックス

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2009年3月13日 (金) 03:00の版

ATE(Automatic Test Equipment)

 量産用の大型LSIテスタのこと.たとえば,論理LSI用のファンクション・テスタ,メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある.テスト項目には,DCテスト(直流特性のテスト),ACテスト(交流特性のテスト),機能テスト(ファンクション・テスト)などがある.  上記のテスタのほか,アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや,DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある.LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり,テスト・コストが上昇している.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.



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