ACテスト

出典: くみこみックス

ACテスト(AC Test)

 LSIの入力ピンにパルス信号(テスト・パターン)を印加して,出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること.具体的には,立ち上がり時間や立ち下がり時間,入出力伝播遅延時間,出力電圧レベルの変化などを測定する.


画像:lsi_f83.gif

図 ACテストの回路構成



【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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