ATE

出典: くみこみックス

版間での差分
最新版 (2009年3月16日 (月) 07:40) (ソースを表示)
 
(間の 3 版分が非表示です)
4 行 4 行
 量産用の大型LSIテスタのこと.たとえば,論理LSI用のファンクション・テスタ,メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある.テスト項目には,DCテスト(直流特性のテスト),ACテスト(交流特性のテスト),機能テスト(ファンクション・テスト)などがある.
 量産用の大型LSIテスタのこと.たとえば,論理LSI用のファンクション・テスタ,メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある.テスト項目には,DCテスト(直流特性のテスト),ACテスト(交流特性のテスト),機能テスト(ファンクション・テスト)などがある.
 上記のテスタのほか,アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや,DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある.LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり,テスト・コストが上昇している.
 上記のテスタのほか,アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや,DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある.LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり,テスト・コストが上昇している.
 +
<br>
 +
<br>
 +
<br>
 +
<center>
 +
[[画像:lsi_f86.gif]]<br>
 +
<br>
 +
'''図 ATEの構成例'''
 +
</center>
<br>
<br>
<br>
<br>
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
-
 
+
<!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 -->
<br>
<br>
<br>
<br>

最新版

ATE(Automatic Test Equipment)

 量産用の大型LSIテスタのこと.たとえば,論理LSI用のファンクション・テスタ,メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある.テスト項目には,DCテスト(直流特性のテスト),ACテスト(交流特性のテスト),機能テスト(ファンクション・テスト)などがある.  上記のテスタのほか,アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや,DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある.LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり,テスト・コストが上昇している.


画像:lsi_f86.gif

図 ATEの構成例



【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

関連項目

表示