機能テスト

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 LSI内部の論理機能が,仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト.
 LSI内部の論理機能が,仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト.
 ATE(LSIテスタ)を用いた機能テストでは,まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを,テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する.それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと,シミュレーションで得られた期待値を比較する.LSIの大規模化,高速化にしたがって,機能テストが非常に困難になってきている.そこで,テスト容易化設計,ATPG,BIST(Built-in Self-test)など,テスト負荷の軽減策が提案され,実施されている.
 ATE(LSIテスタ)を用いた機能テストでは,まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを,テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する.それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと,シミュレーションで得られた期待値を比較する.LSIの大規模化,高速化にしたがって,機能テストが非常に困難になってきている.そこで,テスト容易化設計,ATPG,BIST(Built-in Self-test)など,テスト負荷の軽減策が提案され,実施されている.
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'''図 機能テストの回路構成'''
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最新版

機能テスト【Function Test】

 LSI内部の論理機能が,仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト.  ATE(LSIテスタ)を用いた機能テストでは,まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを,テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する.それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと,シミュレーションで得られた期待値を比較する.LSIの大規模化,高速化にしたがって,機能テストが非常に困難になってきている.そこで,テスト容易化設計,ATPG,BIST(Built-in Self-test)など,テスト負荷の軽減策が提案され,実施されている.


画像:lsi_f12.gif

図 機能テストの回路構成



【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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