テスト容易化設計

出典: くみこみックス

2009年3月13日 (金) 07:50; Kumikomiadmin (会話 | 投稿記録) による版

テスト容易化設計【Design for Testability】

 複雑化,大規模化したLSIをテストする場合,テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる.そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある.そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ.たとえば,テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する.テスト容易化設計には,アドホック方式やスキャン設計,BIST(Built-in Self-test)などがある.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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