テスト容易化設計

出典: くみこみックス

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最新版 (2009年3月16日 (月) 07:08) (ソースを表示)
 
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 複雑化,大規模化したLSIをテストする場合,テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる.そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある.そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ.たとえば,テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する.テスト容易化設計には,アドホック方式やスキャン設計,BIST(Built-in Self-test)などがある.
 複雑化,大規模化したLSIをテストする場合,テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる.そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある.そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ.たとえば,テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する.テスト容易化設計には,アドホック方式やスキャン設計,BIST(Built-in Self-test)などがある.
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'''図 テスト容易化のためのテスト設計環境'''
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テスト容易化設計【Design for Testability】

 複雑化,大規模化したLSIをテストする場合,テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる.そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある.そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ.たとえば,テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する.テスト容易化設計には,アドホック方式やスキャン設計,BIST(Built-in Self-test)などがある.


画像:lsi_f52.gif

図 テスト容易化のためのテスト設計環境



【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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