ATE
出典: くみこみックス
ATE（Automatic Test Equipment）
量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある．
上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している．
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
