BIST
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2009年1月27日 (火) 05:18の版
BIST 【Built-in Self-test】
LSI内部にテスト・ベクタ発生回路と期待値比較回路を組み込んでテストを行うテスト容易化技術です．テスト・ベクタ発生回路と期待値比較回路は，BISTツールによって自動生成します．
【出典】（株）アルティマ 技術統括部 一同，下馬場 朋禄，山際 伸一，横溝 憲治；システム開発者のためのFPGA用語集，Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録，CQ出版社，2008年12月．
