ATE
出典: くみこみックス
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量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある． | 量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある． | ||
上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している． | 上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している． | ||
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| + | '''図 ATEの構成例''' | ||
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最新版
ATE（Automatic Test Equipment）
量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある．
上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している．
図 ATEの構成例
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
