ATE
出典: くみこみックス
版間での差分
| （間の 3 版分が非表示です） | |||
| 4 行 | 4 行 | ||
量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある． | 量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある． | ||
上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している． | 上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している． | ||
| + | <br> | ||
| + | <br> | ||
| + | <br> | ||
| + | <center> | ||
| + | [[画像:lsi_f86.gif]]<br> | ||
| + | <br> | ||
| + | '''図 ATEの構成例''' | ||
| + | </center> | ||
<br> | <br> | ||
<br> | <br> | ||
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
| - | + | <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> | |
<br> | <br> | ||
<br> | <br> | ||
最新版
ATE（Automatic Test Equipment）
量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある．
上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している．
図 ATEの構成例
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
