ACテスト
出典: くみこみックス
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LSIの入力ピンにパルス信号（テスト・パターン）を印加して，出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること．具体的には，立ち上がり時間や立ち下がり時間，入出力伝播遅延時間，出力電圧レベルの変化などを測定する． | LSIの入力ピンにパルス信号（テスト・パターン）を印加して，出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること．具体的には，立ち上がり時間や立ち下がり時間，入出力伝播遅延時間，出力電圧レベルの変化などを測定する． | ||
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【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
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最新版
ACテスト（AC Test）
LSIの入力ピンにパルス信号（テスト・パターン）を印加して，出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること．具体的には，立ち上がり時間や立ち下がり時間，入出力伝播遅延時間，出力電圧レベルの変化などを測定する．
図 ACテストの回路構成
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
