ACテスト
出典: くみこみックス
版間での差分
| （間の 3 版分が非表示です） | |||
| 3 行 | 3 行 | ||
<br> | <br> | ||
LSIの入力ピンにパルス信号（テスト・パターン）を印加して，出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること．具体的には，立ち上がり時間や立ち下がり時間，入出力伝播遅延時間，出力電圧レベルの変化などを測定する． | LSIの入力ピンにパルス信号（テスト・パターン）を印加して，出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること．具体的には，立ち上がり時間や立ち下がり時間，入出力伝播遅延時間，出力電圧レベルの変化などを測定する． | ||
| + | <br> | ||
| + | <br> | ||
| + | <br> | ||
| + | <center> | ||
| + | [[画像:lsi_f83.gif]]<br> | ||
| + | <br> | ||
| + | '''図 ACテストの回路構成''' | ||
| + | </center> | ||
<br> | <br> | ||
<br> | <br> | ||
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
| - | + | <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> | |
<br> | <br> | ||
<br> | <br> | ||
最新版
ACテスト（AC Test）
LSIの入力ピンにパルス信号（テスト・パターン）を印加して，出力ピンにおける出力信号の電気的動作特性を測定すること．具体的には，立ち上がり時間や立ち下がり時間，入出力伝播遅延時間，出力電圧レベルの変化などを測定する．
図 ACテストの回路構成
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
