テスト容易化設計
出典: くみこみックス
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複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある． | 複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある． | ||
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【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
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テスト容易化設計【Design for Testability】
複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある．
図 テスト容易化のためのテスト設計環境
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
