機能テスト
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LSI内部の論理機能が，仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト． | LSI内部の論理機能が，仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト． | ||
ATE（LSIテスタ）を用いた機能テストでは，まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを，テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する．それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと，シミュレーションで得られた期待値を比較する．LSIの大規模化，高速化にしたがって，機能テストが非常に困難になってきている．そこで，テスト容易化設計，ATPG，BIST（Built-in Self-test）など，テスト負荷の軽減策が提案され，実施されている． | ATE（LSIテスタ）を用いた機能テストでは，まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを，テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する．それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと，シミュレーションで得られた期待値を比較する．LSIの大規模化，高速化にしたがって，機能テストが非常に困難になってきている．そこで，テスト容易化設計，ATPG，BIST（Built-in Self-test）など，テスト負荷の軽減策が提案され，実施されている． | ||
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機能テスト【Function Test】
LSI内部の論理機能が，仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト．
ATE（LSIテスタ）を用いた機能テストでは，まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを，テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する．それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと，シミュレーションで得られた期待値を比較する．LSIの大規模化，高速化にしたがって，機能テストが非常に困難になってきている．そこで，テスト容易化設計，ATPG，BIST（Built-in Self-test）など，テスト負荷の軽減策が提案され，実施されている．
図 機能テストの回路構成
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
