JTAG
出典: くみこみックス
版間での差分
Worker (会話 | 投稿記録)
(新しいページ: ' LSIの実装状態のテスト手法としてBST（バウンダリ・スキャン・テスト）が提唱され，LSIの各ピンの状態を順次読み出したり，値...')
次の差分→
2009年1月21日 (水) 07:31の版
LSIの実装状態のテスト手法としてBST（バウンダリ・スキャン・テスト）が提唱され，LSIの各ピンの状態を順次読み出したり，値を設定できるテスト用ポートの仕様が策定されました．これはIEEE 1149.1として規格化されています．JTAGはJoint Test Action Groupの略で，もともとはこの規格を提唱した業界団体の名称から付けられた呼び名です．最近では，このテスト用I/Oポート（JTAGポート）は，FPGAのコンフィグレーションやシステムLSIのデバッグなど実装状態テスト以外の用途に広く利用されています．
【出典】Interface編集部 編；組み込み技術用語集，Interface 2007年8月号 別冊付録，CQ出版社，2007年8月．
