DUT

出典: くみこみックス

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最新版 (2009年3月13日 (金) 07:50) (ソースを表示)
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DUT(Device Under Test)

 LSIテストにおいて,テスト対象となるLSIのこと.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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