DCテスト
出典: くみこみックス
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LSIの電気的静特性の測定．DCテストの測定対象は，外部ピンに接続されている入出力セルに限定される． | LSIの電気的静特性の測定．DCテストの測定対象は，外部ピンに接続されている入出力セルに限定される． | ||
主なテスト項目には，ピン・コンタクト・テスト（外部ピンと内部セルとの接続），入力リーク・テスト（入力セルのハイ・インピーダンス），出力リーク・テスト（出力セル，入出力セルのハイ・インピーダンス），出力電圧レベル・テスト（論理値“H”と“L”の電圧レベル），電源電流テストなどがある． | 主なテスト項目には，ピン・コンタクト・テスト（外部ピンと内部セルとの接続），入力リーク・テスト（入力セルのハイ・インピーダンス），出力リーク・テスト（出力セル，入出力セルのハイ・インピーダンス），出力電圧レベル・テスト（論理値“H”と“L”の電圧レベル），電源電流テストなどがある． | ||
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| + | '''図 DCテストの回路構成''' | ||
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最新版
DCテスト（DC Test）
LSIの電気的静特性の測定．DCテストの測定対象は，外部ピンに接続されている入出力セルに限定される．
主なテスト項目には，ピン・コンタクト・テスト（外部ピンと内部セルとの接続），入力リーク・テスト（入力セルのハイ・インピーダンス），出力リーク・テスト（出力セル，入出力セルのハイ・インピーダンス），出力電圧レベル・テスト（論理値“H”と“L”の電圧レベル），電源電流テストなどがある．
図 DCテストの回路構成
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
