DCテスト

出典: くみこみックス

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 LSIの電気的静特性の測定.DCテストの測定対象は,外部ピンに接続されている入出力セルに限定される.
 LSIの電気的静特性の測定.DCテストの測定対象は,外部ピンに接続されている入出力セルに限定される.
 主なテスト項目には,ピン・コンタクト・テスト(外部ピンと内部セルとの接続),入力リーク・テスト(入力セルのハイ・インピーダンス),出力リーク・テスト(出力セル,入出力セルのハイ・インピーダンス),出力電圧レベル・テスト(論理値“H”と“L”の電圧レベル),電源電流テストなどがある.
 主なテスト項目には,ピン・コンタクト・テスト(外部ピンと内部セルとの接続),入力リーク・テスト(入力セルのハイ・インピーダンス),出力リーク・テスト(出力セル,入出力セルのハイ・インピーダンス),出力電圧レベル・テスト(論理値“H”と“L”の電圧レベル),電源電流テストなどがある.
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'''図 DCテストの回路構成'''
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【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
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<!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 -->
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最新版

DCテスト(DC Test)

 LSIの電気的静特性の測定.DCテストの測定対象は,外部ピンに接続されている入出力セルに限定される.  主なテスト項目には,ピン・コンタクト・テスト(外部ピンと内部セルとの接続),入力リーク・テスト(入力セルのハイ・インピーダンス),出力リーク・テスト(出力セル,入出力セルのハイ・インピーダンス),出力電圧レベル・テスト(論理値“H”と“L”の電圧レベル),電源電流テストなどがある.


画像:lsi_f92.gif

図 DCテストの回路構成



【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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