ATPG

出典: くみこみックス

ATPG（Automatic Test Pattern Generation）

　論理回路情報からLSIテストのための入力パターン（テスト・パターン）を自動生成すること．テスト・パターンを自動生成するツールをATPGツールと呼ぶ． 　LSIテストにおいて，不良品を見逃さないためには，故障検出率（故障箇所を特定できる割合）の高いテスト・パターンを作成する必要がある．しかし，LSIの集積度が上がった現在では，このようなテスト・パターンを人手で作成することは非常に困難である．そこで，テスト・パターンの自動生成が重要になってきた．ただし，どのような回路でも，テスト・パターンを自動生成できるわけではない．ATPGツールが高い故障検出率のテスト・パターンを生成しやすいように，回路設計を工夫する必要がある．これがテスト容易化設計（DFT：Design for Testability）である．

【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．

関連項目

• テスト容易化設計