ATPG

出典: くみこみックス

2009年3月13日 (金) 03:00; Kumikomiadmin (会話 | 投稿記録) による版
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ATPG(Automatic Test Pattern Generation)

 論理回路情報からLSIテストのための入力パターン(テスト・パターン)を自動生成すること.テスト・パターンを自動生成するツールをATPGツールと呼ぶ.  LSIテストにおいて,不良品を見逃さないためには,故障検出率(故障箇所を特定できる割合)の高いテスト・パターンを作成する必要がある.しかし,LSIの集積度が上がった現在では,このようなテスト・パターンを人手で作成することは非常に困難である.そこで,テスト・パターンの自動生成が重要になってきた.ただし,どのような回路でも,テスト・パターンを自動生成できるわけではない.ATPGツールが高い故障検出率のテスト・パターンを生成しやすいように,回路設計を工夫する必要がある.これがテスト容易化設計(DFT:Design for Testability)である.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.



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