バウンダリ・スキャン

出典: くみこみックス

2009年3月16日 (月) 00:58; Worker (会話 | 投稿記録) による版

バウンダリ・スキャン【Boundary Scan】

 JTAG(Joint Test Action Group)が提案した標準的なテスト容易化設計手法.IEEE1149.1として承認されている.入出力ピンの数が少なくても,LSI全体を容易にテストできる.  表面実装技術の普及にともなって,プリント基板のテストにインサーキット方式(プローブを直接LSIの入出力ピンにあてる方式)を適用しにくくなっている.そこで,プリント基板テストの標準方式としてバウンダリ・スキャンが提案された.現在,バウンダリ・スキャンはLSIテストにも応用されている.テストには4個(または5個)のTAP(Test Access Port)と呼ばれる専用ピンを使う.TAPは,スキャン・イン・データを設定するTDI(Test Data Input),スキャン・アウト・データを観測するTDO(Test Data Output),テスト制御状態を設定するTMS(Test Mode Select),テスト・クロックを入力するTCK(Test Clock)からなる.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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