ソフト・エラー

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最新版 (2009年3月16日 (月) 04:15) (ソースを表示)
 
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【出典】(株)アルティマ 技術統括部 一同,下馬場 朋禄,山際 伸一,横溝 憲治;システム開発者のためのFPGA用語集,Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録,CQ出版社,2008年12月.
【出典】(株)アルティマ 技術統括部 一同,下馬場 朋禄,山際 伸一,横溝 憲治;システム開発者のためのFPGA用語集,Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録,CQ出版社,2008年12月.
<!-- 【著作権者】○○ ○○氏 -->
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 DRAMなどのメモリ・デバイスが,パッケージ材料内に含まれる微量の放射線などにより物理的影響を受け,メモリ状態が誤動作するエラー.
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【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
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ソフト・エラー 【Soft Error】

 放射線によってLSIの動作不良が引き起こされる現象を指します.ソフト・エラーを引き起こす放射線には,高エネルギ中性子,α粒子,熱中性子があります.現在の主因は高エネルギ中性子で,α粒子や熱中性子の影響は小さくなっています.

【出典】(株)アルティマ 技術統括部 一同,下馬場 朋禄,山際 伸一,横溝 憲治;システム開発者のためのFPGA用語集,Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録,CQ出版社,2008年12月.


 DRAMなどのメモリ・デバイスが,パッケージ材料内に含まれる微量の放射線などにより物理的影響を受け,メモリ状態が誤動作するエラー.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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