スキャン設計

出典: くみこみックス

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最新版 (2009年3月16日 (月) 06:50) (ソースを表示)
 
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 テスト容易化設計手法の一つ.順序回路を組み合わせ回路に展開し,外部端子から直接,信号を観測・制御する.
 テスト容易化設計手法の一つ.順序回路を組み合わせ回路に展開し,外部端子から直接,信号を観測・制御する.
 具体的には,論理回路中のすべての順序回路(記憶素子を含む回路)にテスト・モード用のパス(スキャン・パス)を通して制御し,一つのシフト・レジスタとして動作させる(フル・スキャン方式の場合).ゲート規模(チップ面積)のオーバヘッドがやや大きくなるため,それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている.
 具体的には,論理回路中のすべての順序回路(記憶素子を含む回路)にテスト・モード用のパス(スキャン・パス)を通して制御し,一つのシフト・レジスタとして動作させる(フル・スキャン方式の場合).ゲート規模(チップ面積)のオーバヘッドがやや大きくなるため,それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている.
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'''図 スキャン設計'''
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最新版

スキャン設計【Scan Design】

 テスト容易化設計手法の一つ.順序回路を組み合わせ回路に展開し,外部端子から直接,信号を観測・制御する.  具体的には,論理回路中のすべての順序回路(記憶素子を含む回路)にテスト・モード用のパス(スキャン・パス)を通して制御し,一つのシフト・レジスタとして動作させる(フル・スキャン方式の場合).ゲート規模(チップ面積)のオーバヘッドがやや大きくなるため,それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている.


画像:lsi_f35.gif

図 スキャン設計



【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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