DFT

出典: くみこみックス

DFT 【Design for Testability】

　半導体の微細加工技術の向上により，一つのLSI上にCPU，メモリ，各種コントローラなどを搭載できるようになってきました．このようにLSIの回路規模が増大することにより，そのLSIの出荷テストの時間が増加してしまう問題があります．そこで，LSIのテストを容易・迅速に行うDFTと呼ばれるテスト容易化設計の手法が開発されています．例えば，DFTの一つの手法としてBIST（Built-in Self-test）があります．この手法はLSI上にBIST回路を組み込み，被測定対象の回路へ与えるテスト・パターンの生成や入力，期待値との比較を行うことで，LSIのテストを容易化する技術です．

【出典】（株）アルティマ 技術統括部 一同，下馬場 朋禄，山際 伸一，横溝 憲治；システム開発者のためのFPGA用語集，Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録，CQ出版社，2008年12月．