ATPG
出典: くみこみックス
ATPG(Automatic Test Pattern Generation)
論理回路情報からLSIテストのための入力パターン(テスト・パターン)を自動生成すること.テスト・パターンを自動生成するツールをATPGツールと呼ぶ.
LSIテストにおいて,不良品を見逃さないためには,故障検出率(故障箇所を特定できる割合)の高いテスト・パターンを作成する必要がある.しかし,LSIの集積度が上がった現在では,このようなテスト・パターンを人手で作成することは非常に困難である.そこで,テスト・パターンの自動生成が重要になってきた.ただし,どのような回路でも,テスト・パターンを自動生成できるわけではない.ATPGツールが高い故障検出率のテスト・パターンを生成しやすいように,回路設計を工夫する必要がある.これがテスト容易化設計(DFT:Design for Testability)である.
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.