JTAG

出典: くみこみックス

最新版

JTAG 【Joint Test Action Group】

　LSIの実装状態のテスト手法としてBST（バウンダリ・スキャン・テスト）が提唱され，LSIの各ピンの状態を順次読み出したり，値を設定できるテスト用ポートの仕様が策定されました．これはIEEE 1149.1として規格化されています．JTAGはJoint Test Action Groupの略で，もともとはこの規格を提唱した業界団体の名称から付けられた呼び名です．最近では，このテスト用I/Oポート（JTAGポート）は，FPGAのコンフィグレーションやシステムLSIのデバッグなど実装状態テスト以外の用途に広く利用されています．

【出典】宮崎 仁；ARM用語集，デザイン ウェーブ マガジン 2008年6月号 別冊付録，CQ出版社，2008年6月．

　もともとはバウンダリ・スキャン・テストを行うために標準化された規格（IEEE 1149.1）です．JTAGに対応したデバイスの間で接続テストなどを行えます．最近では，マイクロコントローラのデバッグ・インターフェースとしても利用されています．また，FPGAの回路情報の書き込みや内部の波形観測にもJTAGインターフェースが利用されています．

【出典】（株）アルティマ 技術統括部 一同，下馬場 朋禄，山際 伸一，横溝 憲治；システム開発者のためのFPGA用語集，Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録，CQ出版社，2008年12月．

関連項目

• バウンダリ・スキャン・テスト