スキャン設計
出典: くみこみックス
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テスト容易化設計手法の一つ．順序回路を組み合わせ回路に展開し，外部端子から直接，信号を観測・制御する． | テスト容易化設計手法の一つ．順序回路を組み合わせ回路に展開し，外部端子から直接，信号を観測・制御する． | ||
具体的には，論理回路中のすべての順序回路（記憶素子を含む回路）にテスト・モード用のパス（スキャン・パス）を通して制御し，一つのシフト・レジスタとして動作させる（フル・スキャン方式の場合）．ゲート規模（チップ面積）のオーバヘッドがやや大きくなるため，それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている． | 具体的には，論理回路中のすべての順序回路（記憶素子を含む回路）にテスト・モード用のパス（スキャン・パス）を通して制御し，一つのシフト・レジスタとして動作させる（フル・スキャン方式の場合）．ゲート規模（チップ面積）のオーバヘッドがやや大きくなるため，それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている． | ||
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【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
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最新版
スキャン設計【Scan Design】
テスト容易化設計手法の一つ．順序回路を組み合わせ回路に展開し，外部端子から直接，信号を観測・制御する．
具体的には，論理回路中のすべての順序回路（記憶素子を含む回路）にテスト・モード用のパス（スキャン・パス）を通して制御し，一つのシフト・レジスタとして動作させる（フル・スキャン方式の場合）．ゲート規模（チップ面積）のオーバヘッドがやや大きくなるため，それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている．
図 スキャン設計
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
