ATPG

出典: くみこみックス

版間での差分
M (1 版)
最新版 (2009年3月13日 (金) 07:50) (ソースを表示)
M (1 版)
 
(間の 1 版分が非表示です)
7 行 7 行
<br>
<br>
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
-
 
+
<!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 -->
<br>
<br>
<br>
<br>

最新版

ATPG(Automatic Test Pattern Generation)

 論理回路情報からLSIテストのための入力パターン(テスト・パターン)を自動生成すること.テスト・パターンを自動生成するツールをATPGツールと呼ぶ.  LSIテストにおいて,不良品を見逃さないためには,故障検出率(故障箇所を特定できる割合)の高いテスト・パターンを作成する必要がある.しかし,LSIの集積度が上がった現在では,このようなテスト・パターンを人手で作成することは非常に困難である.そこで,テスト・パターンの自動生成が重要になってきた.ただし,どのような回路でも,テスト・パターンを自動生成できるわけではない.ATPGツールが高い故障検出率のテスト・パターンを生成しやすいように,回路設計を工夫する必要がある.これがテスト容易化設計(DFT:Design for Testability)である.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

関連項目

表示