歩留まり
出典: くみこみックス
版間での差分
M (1 版) |
|||
| 6 行 | 6 行 | ||
<br> | <br> | ||
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
| - | + | <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> | |
<br> | <br> | ||
<br> | <br> | ||
2009年3月13日 (金) 07:40の版
歩留まり【Yield Rate】
製造工程における良品率をいう．LSIウェハ製造工程では，完成ウェハ枚数/投入ウェハ枚数を工程歩留まり，あるいはウェハ歩留まりと呼ぶ．また最終完成ウェハのLSIテスタ（ATE）による各チップの電気的特性・機能確認テストにおける良品率をチップ歩留まりと呼ぶ．一般に，LSI業界でいう歩留まりは，このチップ歩留まりを指すことが多い．
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
