テスト・パターン

出典: くみこみックス

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【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.
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<!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 -->
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最新版

テスト・パターン【Test Pattern】

 LSIの論理回路の良否判定を実行するために必要な入力信号パターン.LSIテストや論理シミュレーションの際に利用する.テスト・ベクタともいう.  LSIをテストするには,故障箇所を検出するためのテスト・プログラムが必要になる.テスト・プログラムの主たる部分は,被測定デバイスの良否を判定するためのテスト・パターンである.理想的には,LSI内部のすべての箇所を検査できるテスト・パターン(故障検出率が100%のテスト・パターン)を用意する必要がある.しかし,実際にこのようなテスト・パターンを作成することは非常にむずかしい.そこで,テスト・パターンを自動生成するATPGツールが利用されている.

【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.

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