テスト・パターン
出典: くみこみックス
版間での差分
M (1 版) |
|||
| （間の 2 版分が非表示です） | |||
| 7 行 | 7 行 | ||
<br> | <br> | ||
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． | ||
| - | + | <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> | |
<br> | <br> | ||
<br> | <br> | ||
最新版
テスト・パターン【Test Pattern】
LSIの論理回路の良否判定を実行するために必要な入力信号パターン．LSIテストや論理シミュレーションの際に利用する．テスト・ベクタともいう．
LSIをテストするには，故障箇所を検出するためのテスト・プログラムが必要になる．テスト・プログラムの主たる部分は，被測定デバイスの良否を判定するためのテスト・パターンである．理想的には，LSI内部のすべての箇所を検査できるテスト・パターン（故障検出率が100％のテスト・パターン）を用意する必要がある．しかし，実際にこのようなテスト・パターンを作成することは非常にむずかしい．そこで，テスト・パターンを自動生成するATPGツールが利用されている．
【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
