エピタキシャル・ウェハ
出典: くみこみックス
版間での差分
M (1 版) |
|||
(間の 2 版分が非表示です) | |||
6 行 | 6 行 | ||
<br> | <br> | ||
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月. | 【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月. | ||
- | + | <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> | |
<br> | <br> | ||
<br> | <br> |
最新版
エピタキシャル・ウェハ【Epitaxial Wafer】
シリコン基板などの単結晶表面に,異なる比抵抗をもつ単結晶層をエピタキシャル成長させたウェハ.MOSFETのリーク電流を極力抑えなければならない64Mビット以降のDRAMなどに使用されている.リーク電流を少なくするためには,結晶欠陥をできるだけ除去することが重要である.MOSFETが構成される半導体基板表面の結晶性は,より完全なものが要求される.
【出典】西久保 靖彦;基本システムLSI用語辞典,CQ出版社,2000年5月.