Kumikomiadmin: 1 版

Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 07:50:12 GMT

1 版

←前の版

2009年3月13日 (金) 07:50の版

2009年3月13日 (金) 07:40 における Kumikomiadmin による編集

Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 07:40:00 GMT

←前の版		2009年3月13日 (金) 07:40の版
8 行		8 行
	<br>		<br>
	【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．		【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
-		+	<!-- 【著作権者】西久保靖彦氏 -->
	<br>		<br>
	<br>		<br>

Kumikomiadmin: 1 版

Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 07:38:57 GMT

1 版

←前の版

2009年3月13日 (金) 07:38の版

2009年3月13日 (金) 03:00 における Kumikomiadmin による編集

Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 03:00:01 GMT

新規ページ

IDDQテスト（IDDQ Test）
 
 
　CMOS LSI専用のテスト手法．従来の機能テストでは入出力ピンの信号レベルを測定して故障の有無を検出するのに対して，IDDQテストでは電源電流を測定して故障を検出する．現在，大規模LSIテストの一手法として注目を浴びている．
　IDDQテストでは，被測定デバイスの全トランジスタがスイッチングしていない静止時に，チップの電源電流（IDDQ）を測定する．本来，CMOS LSIでは，静止時に高電位側から低電位側に向かってわずかな電流しか流れない（静止時のリーク電流はμA～nAのオーダ）．しかし，故障が発生するとこの電流が大きくなる．この違いに着目して故障を検出する．
　機能テストの場合と異なり，IDDQテストでは少ないテスト・パターンによって多くの故障を検出できると言われている．しかし，欠点もある．現状では低コストで精度よくIDDQを測定する手法が確立されていない．機能テストと比較してテスト時間が長い．また，IDDQを測定するため，場合によっては，チップの静止電流が小さくなるように回路方式を見直す必要がある．最近，IDDQテストは機能テストと併用して用いられるようになっている．
 
 
【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．

 
 

[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

IDDQテスト - 変更履歴

Kumikomiadmin: 1 版

2009年3月13日 (金) 07:40 における Kumikomiadmin による編集

Kumikomiadmin: 1 版

2009年3月13日 (金) 03:00 における Kumikomiadmin による編集