バウンダリ・スキャン - 変更履歴

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Worker — Mon, 16 Mar 2009 07:18:49 GMT

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	JTAG（Joint Test Action Group）が提案した標準的なテスト容易化設計手法．IEEE1149.1として承認されている．入出力ピンの数が少なくても，LSI全体を容易にテストできる．		JTAG（Joint Test Action Group）が提案した標準的なテスト容易化設計手法．IEEE1149.1として承認されている．入出力ピンの数が少なくても，LSI全体を容易にテストできる．
	表面実装技術の普及にともなって，プリント基板のテストにインサーキット方式（プローブを直接LSIの入出力ピンにあてる方式）を適用しにくくなっている．そこで，プリント基板テストの標準方式としてバウンダリ・スキャンが提案された．現在，バウンダリ・スキャンはLSIテストにも応用されている．テストには4個（または5個）のTAP（Test Access Port）と呼ばれる専用ピンを使う．TAPは，スキャン・イン・データを設定するTDI（Test Data Input），スキャン・アウト・データを観測するTDO（Test Data Output），テスト制御状態を設定するTMS（Test Mode Select），テスト・クロックを入力するTCK（Test Clock）からなる．		表面実装技術の普及にともなって，プリント基板のテストにインサーキット方式（プローブを直接LSIの入出力ピンにあてる方式）を適用しにくくなっている．そこで，プリント基板テストの標準方式としてバウンダリ・スキャンが提案された．現在，バウンダリ・スキャンはLSIテストにも応用されている．テストには4個（または5個）のTAP（Test Access Port）と呼ばれる専用ピンを使う．TAPは，スキャン・イン・データを設定するTDI（Test Data Input），スキャン・アウト・データを観測するTDO（Test Data Output），テスト制御状態を設定するTMS（Test Mode Select），テスト・クロックを入力するTCK（Test Clock）からなる．
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		+	'''図　バウンダリ・スキャン'''
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2009年3月16日 (月) 00:58 における Worker による編集

Worker — Mon, 16 Mar 2009 00:58:54 GMT

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-	[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]	+	[[Category:組み込み技術全般\|ハウンタリスキャン]] [[Category:LSI\|ハウンタリスキャン]]

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Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 07:40:00 GMT

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	【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．		【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
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バウンダリ・スキャン【Boundary Scan】
 
 
　JTAG（Joint Test Action Group）が提案した標準的なテスト容易化設計手法．IEEE1149.1として承認されている．入出力ピンの数が少なくても，LSI全体を容易にテストできる．
　表面実装技術の普及にともなって，プリント基板のテストにインサーキット方式（プローブを直接LSIの入出力ピンにあてる方式）を適用しにくくなっている．そこで，プリント基板テストの標準方式としてバウンダリ・スキャンが提案された．現在，バウンダリ・スキャンはLSIテストにも応用されている．テストには4個（または5個）のTAP（Test Access Port）と呼ばれる専用ピンを使う．TAPは，スキャン・イン・データを設定するTDI（Test Data Input），スキャン・アウト・データを観測するTDO（Test Data Output），テスト制御状態を設定するTMS（Test Mode Select），テスト・クロックを入力するTCK（Test Clock）からなる．
 
 
【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．

 
 

[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]