テスト容易化設計 - 変更履歴

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Worker — Mon, 16 Mar 2009 07:08:28 GMT

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	複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある．		複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある．
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		+	'''図　テスト容易化のためのテスト設計環境'''
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Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 07:50:03 GMT

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	【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．		【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
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Kumikomiadmin — Fri, 13 Mar 2009 07:38:46 GMT

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テスト容易化設計【Design for Testability】
 
 
　複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある．
 
 
【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．

 
 
== 関連項目 ==
* [[アドホック方式]]
* [[スキャン設計]]
* [[ATPG]]
* [[BIST]]

[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]