テスト・パターン - 変更履歴

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	【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．		【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
-		+	<!-- 【著作権者】西久保靖彦氏 -->
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テスト・パターン【Test Pattern】
 
 
　LSIの論理回路の良否判定を実行するために必要な入力信号パターン．LSIテストや論理シミュレーションの際に利用する．テスト・ベクタともいう．
　LSIをテストするには，故障箇所を検出するためのテスト・プログラムが必要になる．テスト・プログラムの主たる部分は，被測定デバイスの良否を判定するためのテスト・パターンである．理想的には，LSI内部のすべての箇所を検査できるテスト・パターン（故障検出率が100％のテスト・パターン）を用意する必要がある．しかし，実際にこのようなテスト・パターンを作成することは非常にむずかしい．そこで，テスト・パターンを自動生成するATPGツールが利用されている．
 
 
【出典】西久保靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．

 
 
== 関連項目 ==
* [[ATPG]]

[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]