http://mix.kumikomi.net/index.php?action=history&feed=atom&title=%E3%83%90%E3%82%A6%E3%83%B3%E3%83%80%E3%83%AA%E3%83%BB%E3%82%B9%E3%82%AD%E3%83%A3%E3%83%B3%E3%83%BB%E3%83%86%E3%82%B9%E3%83%88 2026-06-26T08:57:42Z このウィキのこのページに関する変更履歴 MediaWiki 1.13.2 http://mix.kumikomi.net/index.php?title=%E3%83%90%E3%82%A6%E3%83%B3%E3%83%80%E3%83%AA%E3%83%BB%E3%82%B9%E3%82%AD%E3%83%A3%E3%83%B3%E3%83%BB%E3%83%86%E3%82%B9%E3%83%88&diff=3881&oldid=prev 2009-01-29T02:48:29Z

<p></p> <table style="background-color: white; color:black;"> <col class='diff-marker' /> <col class='diff-content' /> <col class='diff-marker' /> <col class='diff-content' /> <tr valign='top'> <td colspan='2' style="background-color: white; color:black;">←前の版</td> <td colspan='2' style="background-color: white; color:black;">2009年1月29日 (木) 02:48の版</td> </tr> <tr><td colspan="2" class="diff-lineno">12 行</td> <td colspan="2" class="diff-lineno">12 行</td></tr> <tr><td class='diff-marker'> </td><td style="background: #eee; color:black; font-size: smaller;"><div>* [[JTAG]]</div></td><td class='diff-marker'> </td><td style="background: #eee; color:black; font-size: smaller;"><div>* [[JTAG]]</div></td></tr> <tr><td class='diff-marker'> </td><td style="background: #eee; color:black; font-size: smaller;"></td><td class='diff-marker'> </td><td style="background: #eee; color:black; font-size: smaller;"></td></tr> <tr><td class='diff-marker'>-</td><td style="background: #ffa; color:black; font-size: smaller;"><div>[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:FPGA]]</div></td><td class='diff-marker'>+</td><td style="background: #cfc; color:black; font-size: smaller;"><div>[[Category:組み込み技術全般<ins class="diffchange diffchange-inline">|ハウンタリスキャンテスト</ins>]] [[Category:FPGA<ins class="diffchange diffchange-inline">|ハウンタリスキャンテスト</ins>]]</div></td></tr> <!-- diff generator: internal 2026-06-26 08:57:42 --> </table>

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<p>新しいページ: 'バウンダリ・スキャン・テスト 【Boundary Scan Test】 　テスト時に回路内部のレジスタをシフト・レジスタになるように接続し，こ...'</p> <p><b>新規ページ</b></p><div>バウンダリ・スキャン・テスト 【Boundary Scan Test】<br /> <br /> 　テスト時に回路内部のレジスタをシフト・レジスタになるように接続し，この回路を利用してボードの接続テストなどを行う手法です．テスト・データはこのシフト・レジスタへシリアルに入力します．回路の振る舞いも，シフト・レジスタからシリアルにデータを取り出してチェックします．JTAGは，ボード・テストのためにIEEEで標準化されたバウンダリ・スキャン・テストの規格（IEEE 1149.1）です．<br /> &lt;br&gt;<br /> &lt;br&gt;<br /> 【出典】（株）アルティマ 技術統括部 一同，下馬場 朋禄，山際 伸一，横溝 憲治；システム開発者のためのFPGA用語集，Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録，CQ出版社，2008年12月．<br /> &lt;!-- 【著作権者】○○ ○○氏 --&gt;<br /> &lt;br&gt;<br /> &lt;br&gt;<br /> <br /> == 関連項目 ==<br /> * [[JTAG]]<br /> <br /> [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:FPGA]]</div>

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