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出典: くみこみックス

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ATE（Automatic Test Equipment） <br> <br> 　量産用の大型LSIテスタのこと．たとえば，論理LSI用のファンクション・テスタ，メモリLSI用のメモリ・テスタなどがある．テスト項目には，DCテスト（直流特性のテスト），ACテスト（交流特性のテスト），機能テスト（ファンクション・テスト）などがある． 　上記のテスタのほか，アナログ・ディジタル混在LSIをテストできるミックスト・モード・テスタや，DRAM混載のシステムLSIに対応したテスタなどもある．LSIの高速化・大規模化が進むにつれてATEの価格が上がり，テスト・コストが上昇している． <br> <br> <br> <center> [[画像:lsi_f86.gif]]<br> <br> '''図　ATEの構成例''' </center> <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> == 関連項目 == * [[機能テスト]] * [[ACテスト]] * [[DCテスト]] [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

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