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出典: くみこみックス

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歩留まり【Yield Rate】 <br> <br> 　製造工程における良品率をいう．LSIウェハ製造工程では，完成ウェハ枚数/投入ウェハ枚数を工程歩留まり，あるいはウェハ歩留まりと呼ぶ．また最終完成ウェハのLSIテスタ（ATE）による各チップの電気的特性・機能確認テストにおける良品率をチップ歩留まりと呼ぶ．一般に，LSI業界でいう歩留まりは，このチップ歩留まりを指すことが多い． <br> <br> <br> <center> [[画像:lsi_f73.gif]]<br> <br> '''図　１枚のウェハからとれる有効チップの数''' </center> <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> [[Category:組み込み技術全般|フトマリ]] [[Category:LSI|フトマリ]]

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