ソースを表示

出典: くみこみックス

以下に示された理由により ページの編集 を行うことができません:

以下にソースを表示しています:

テスト・パターン【Test Pattern】 <br> <br> 　LSIの論理回路の良否判定を実行するために必要な入力信号パターン．LSIテストや論理シミュレーションの際に利用する．テスト・ベクタともいう． 　LSIをテストするには，故障箇所を検出するためのテスト・プログラムが必要になる．テスト・プログラムの主たる部分は，被測定デバイスの良否を判定するためのテスト・パターンである．理想的には，LSI内部のすべての箇所を検査できるテスト・パターン（故障検出率が100％のテスト・パターン）を用意する必要がある．しかし，実際にこのようなテスト・パターンを作成することは非常にむずかしい．そこで，テスト・パターンを自動生成するATPGツールが利用されている． <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> == 関連項目 == * [[ATPG]] [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

テスト・パターン に戻る。