ソースを表示

出典: くみこみックス

以下に示された理由により ページの編集 を行うことができません:

以下にソースを表示しています:

ソフト・エラー 【Soft Error】 　放射線によってLSIの動作不良が引き起こされる現象を指します．ソフト・エラーを引き起こす放射線には，高エネルギ中性子，α粒子，熱中性子があります．現在の主因は高エネルギ中性子で，α粒子や熱中性子の影響は小さくなっています． <br> <br> 【出典】（株）アルティマ 技術統括部 一同，下馬場 朋禄，山際 伸一，横溝 憲治；システム開発者のためのFPGA用語集，Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録，CQ出版社，2008年12月． <!-- 【著作権者】○○ ○○氏 --> ---- 　DRAMなどのメモリ・デバイスが，パッケージ材料内に含まれる微量の放射線などにより物理的影響を受け，メモリ状態が誤動作するエラー． <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:FPGA]] [[Category:LSI]]

ソフト・エラー に戻る。