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スキャン設計【Scan Design】
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　テスト容易化設計手法の一つ．順序回路を組み合わせ回路に展開し，外部端子から直接，信号を観測・制御する．
　具体的には，論理回路中のすべての順序回路（記憶素子を含む回路）にテスト・モード用のパス（スキャン・パス）を通して制御し，一つのシフト・レジスタとして動作させる（フル・スキャン方式の場合）．ゲート規模（チップ面積）のオーバヘッドがやや大きくなるため，それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている．
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[[画像:lsi_f35.gif]]<br>
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'''図　スキャン設計'''
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【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
<!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 -->
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== 関連項目 ==
* [[パーシャル・スキャン]]

[[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]