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機能テスト【Function Test】
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　LSI内部の論理機能が，仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト．
　ATE（LSIテスタ）を用いた機能テストでは，まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを，テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する．それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと，シミュレーションで得られた期待値を比較する．LSIの大規模化，高速化にしたがって，機能テストが非常に困難になってきている．そこで，テスト容易化設計，ATPG，BIST（Built-in Self-test）など，テスト負荷の軽減策が提案され，実施されている．
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[[画像:lsi_f12.gif]]<br>
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'''図　機能テストの回路構成'''
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【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月．
<!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 -->
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== 関連項目 ==
* [[テスト容易化設計]]
* [[ATE]]
* [[ATPG]]
* [[BIST]]

[[Category:組み込み技術全般|キノウテスト]] [[Category:LSI|キノウテスト]]