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出典: くみこみックス

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テスト容易化設計【Design for Testability】 <br> <br> 　複雑化，大規模化したLSIをテストする場合，テスト・プログラムの開発に膨大な時間がかかる．そこでLSIテストの負荷を軽減するための対策を講じる必要がある．そのための設計手法をテスト容易化設計と呼ぶ．たとえば，テスト・パターンを自動生成するATPGツールを適用しやすい回路を作成する．テスト容易化設計には，アドホック方式やスキャン設計，BIST（Built-in Self-test）などがある． <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> == 関連項目 == * [[アドホック方式]] * [[スキャン設計]] * [[ATPG]] * [[BIST]] [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

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