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出典: くみこみックス

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スキャン設計【Scan Design】 <br> <br> 　テスト容易化設計手法の一つ．順序回路を組み合わせ回路に展開し，外部端子から直接，信号を観測・制御する． 　具体的には，論理回路中のすべての順序回路（記憶素子を含む回路）にテスト・モード用のパス（スキャン・パス）を通して制御し，一つのシフト・レジスタとして動作させる（フル・スキャン方式の場合）．ゲート規模（チップ面積）のオーバヘッドがやや大きくなるため，それを軽減する目的でパーシャル・スキャンなどの種々の方式が考案されている． <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> == 関連項目 == * [[パーシャル・スキャン]] [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

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