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出典: くみこみックス

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機能テスト【Function Test】 <br> <br> 　LSI内部の論理機能が，仕様どおりに正しく動作しているかどうかを判定するテスト． 　ATE（LSIテスタ）を用いた機能テストでは，まず論理シミュレータなどで生成したテスト入力パターンを，テスト・パターン発生器から被測定デバイスに印加する．それによって得られる被測定デバイスからの出力パターンと，シミュレーションで得られた期待値を比較する．LSIの大規模化，高速化にしたがって，機能テストが非常に困難になってきている．そこで，テスト容易化設計，ATPG，BIST（Built-in Self-test）など，テスト負荷の軽減策が提案され，実施されている． <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <!-- 【著作権者】西久保 靖彦氏 --> <br> <br> == 関連項目 == * [[テスト容易化設計]] * [[ATE]] * [[ATPG]] * [[BIST]] [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

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