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出典: くみこみックス

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ATPG（Automatic Test Pattern Generation） <br> <br> 　論理回路情報からLSIテストのための入力パターン（テスト・パターン）を自動生成すること．テスト・パターンを自動生成するツールをATPGツールと呼ぶ． 　LSIテストにおいて，不良品を見逃さないためには，故障検出率（故障箇所を特定できる割合）の高いテスト・パターンを作成する必要がある．しかし，LSIの集積度が上がった現在では，このようなテスト・パターンを人手で作成することは非常に困難である．そこで，テスト・パターンの自動生成が重要になってきた．ただし，どのような回路でも，テスト・パターンを自動生成できるわけではない．ATPGツールが高い故障検出率のテスト・パターンを生成しやすいように，回路設計を工夫する必要がある．これがテスト容易化設計（DFT：Design for Testability）である． <br> <br> 【出典】西久保 靖彦；基本システムLSI用語辞典，CQ出版社，2000年5月． <br> <br> == 関連項目 == * [[テスト容易化設計]] [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:LSI]]

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