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出典: くみこみックス

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DFT 【Design for Testability】 　半導体の微細加工技術の向上により，一つのLSI上にCPU，メモリ，各種コントローラなどを搭載できるようになってきました．このようにLSIの回路規模が増大することにより，そのLSIの出荷テストの時間が増加してしまう問題があります．そこで，LSIのテストを容易・迅速に行うDFTと呼ばれるテスト容易化設計の手法が開発されています．例えば，DFTの一つの手法としてBIST（Built-in Self-test）があります．この手法はLSI上にBIST回路を組み込み，被測定対象の回路へ与えるテスト・パターンの生成や入力，期待値との比較を行うことで，LSIのテストを容易化する技術です． <br> <br> 【出典】（株）アルティマ 技術統括部 一同，下馬場 朋禄，山際 伸一，横溝 憲治；システム開発者のためのFPGA用語集，Design Wave Magazine 2008年12月号 別冊付録，CQ出版社，2008年12月． <!-- 【著作権者】○○ ○○氏 --> <br> <br> [[Category:組み込み技術全般]] [[Category:FPGA]]

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